X射線熒光光譜儀分析衍射結(jié)果科學(xué)研究
2018-04-20
X射線熒光光譜儀分析衍射結(jié)果科學(xué)研究
x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng)，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。以上是1912年德國物理學(xué)家勞厄(M.vonLaue)提出的一個重要科學(xué)預(yù)見，隨即被實驗所證實。1913年，英國物理學(xué)家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在勞厄發(fā)現(xiàn)的基礎(chǔ)上，不僅成功的測定了NaCl，KCl等晶體結(jié)構(gòu)，還提出了作為晶體衍射基礎(chǔ)的公式——布拉格方程：2dsinθ=nλ。
對于晶體材料，當(dāng)待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強(qiáng)度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。
帕納科是X射線熒光光譜儀分析儀器及軟件的主要供應(yīng)商之一。分析儀器主要應(yīng)用于科學(xué)的研究和發(fā)展、工業(yè)過程控制以及半導(dǎo)體材料的物性測量領(lǐng)域?？蔀榭蛻籼峁┝可矶ㄖ频臒o損分析解決方案，用以分析表征廣泛的產(chǎn)品，例如石化產(chǎn)品、塑料和聚合物、環(huán)境、醫(yī)藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個行業(yè)領(lǐng)域。
產(chǎn)品簡介：
Epsilon3X儀器為臺式能量色散型X射線熒光光譜儀，它采用了激發(fā)和檢測技術(shù)的成果。該儀器運行穩(wěn)定，操作簡便，對整個元素周期表中的元素均具備的分析性能。
X射線熒光光譜儀依靠各種軟件模塊（用于處理先進(jìn)的無標(biāo)分析Omnian、石油分析Oil-Trace、快速進(jìn)行指紋識別FingerPrint、多層分析Stratos和符合法規(guī)要求）增強(qiáng)其功能，是一款經(jīng)濟(jì)實惠、高度靈活的分析工具，適用于各種應(yīng)用場合。
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